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一些電纜具有電氣部件，例如集成電路，二極管，電容器和電阻器。在高壓電阻測試期間，直流高壓發(fā)生器可以同時提高組件或電路所有分支上的電壓，從而使兩端都看不到電壓差。測試技術(shù)人員應(yīng)檢查測試程序，以確保其正確考慮了敏感組件。

為什么限制電流和電荷？

　　在高壓測試期間，直流高壓發(fā)生器將高壓施加到被測設(shè)備的每個連接器觸點或互連網(wǎng)絡(luò)，同時將其他連接保持在地面上。在介電耐壓（DWV）測試期間，直流高壓發(fā)生器會監(jiān)視電流的突然尖峰，該尖峰表明電弧或其他突然擊穿情況。如果電流水平超過電流跳閘設(shè)置（也稱為DWV閾值電流設(shè)置），則直流高壓發(fā)生器會立即關(guān)閉電壓并使被測設(shè)備失效。在絕緣電阻（IR）測試期間，測試儀會切換到較低的電流范圍，以準(zhǔn)確測量高水平的絕緣電阻。同樣，測試儀會立即關(guān)閉高電壓，而電流不會明顯上升或出現(xiàn)小尖峰。

　　某些測試規(guī)格可能會允許比測試儀支持的電流更高的電流。較低的電流閾值是更嚴(yán)格的規(guī)格。一些客戶一直擔(dān)心拒絕合格的電纜，因為他們無法將跳閘電流設(shè)置設(shè)置為測試規(guī)范允許的最大值。但是，實踐表明，當(dāng)使用較低的電流水平時，良好的電纜不會被拒絕。無需讓電流尖峰繼續(xù)。一旦發(fā)生電弧或擊穿，電流將增大，直到達(dá)到電流閾值為止，無論電流閾值設(shè)置在何處。

　　為什么某些耐壓測試儀允許更高的電流閾值？一些耐壓測試儀被設(shè)計為具有破壞性的耐壓測試功能，其中超過絕緣子的絕緣電壓強度并在延長的擊穿期內(nèi)進(jìn)行監(jiān)控。當(dāng)超過介電強度時，高電流會產(chǎn)生熱量，這又可以評估高溫的潛在破壞作用。在其他情況下，耐壓測試儀具有較高的電流限制，以適應(yīng)測量系統(tǒng)中的噪聲。一些人建議較高的測試電流閾值可用于“吹高電阻短路"。盡管這可能可行，但工程師建議在高電流條件下更可能發(fā)生損壞。應(yīng)該始終從根本上診斷并糾正該錯誤。

　　具有靜電電容網(wǎng)的電纜和導(dǎo)體（例如，很長的電纜）在進(jìn)行耐壓測試時也需要更高的電荷和電流限制。當(dāng)高電容網(wǎng)絡(luò)上的電壓快速升高時，即使該網(wǎng)絡(luò)與其他網(wǎng)絡(luò)電氣隔離，也會有電流涌入。在直流耐壓測試中可以增加電壓斜坡時間，從而使測試儀可以在不產(chǎn)生大電流的情況下將凈值提高到耐壓電壓。但是，根據(jù)公式Q=cv，隨著電容的增加，帶有電容c的網(wǎng)絡(luò)上的內(nèi)部電荷Q也會增加。請注意，如果電荷不受限制，則在高壓故障期間，電纜中存儲的能量可能會產(chǎn)生破壞性的大電流。在交流耐壓測試中，電壓隨交流頻率變化。因此，測試時需謹(jǐn)慎。

　　高壓測試的高壓設(shè)置應(yīng)選擇低于被測組件的實際絕緣擊穿電壓。請注意，實際的絕緣擊穿電壓通常遠(yuǎn)高于組件的額定或工作電壓。

　　一遍又一遍地反復(fù)進(jìn)行失敗的耐壓測試，不被視為良好的行業(yè)慣例。在這種情況下，每次發(fā)生高壓電弧時，壞電纜可能會變得更糟?？赡苄枰匦逻\行耐壓測試以診斷錯誤。雖然反復(fù)出現(xiàn)的低電流電弧極不可能造成yong久性損壞，但應(yīng)調(diào)查一下HIPOT故障的原因。一旦您相信自己已解決了警惕性錯誤，就必須重新運行警惕性測試以確保糾正了警惕性錯誤。

　　當(dāng)某個組件出現(xiàn)故障時，施加測試電壓將導(dǎo)致放電破壞或性能下降。由于過多的泄漏電流而導(dǎo)致的劣化可能會改變電氣參數(shù)或物理特性。

　　我們有時看到耐壓測試可能一次失敗，然后在不對被測設(shè)備進(jìn)行任何更改的情況下再次失敗的情況。這表明半導(dǎo)體元件已經(jīng)消散，換句話說，耐壓測試表明電纜質(zhì)量良好。但是請注意，當(dāng)電纜通過耐壓測試時，由于直流高壓發(fā)生器的電流和電荷有限，因此不會產(chǎn)生負(fù)面影響。的確，如果高壓電壓施加不當(dāng)，放電會損壞靜電敏感組件。但是，從一個絲網(wǎng)到另一絲網(wǎng)的正常放電不會產(chǎn)生足夠的熱量來損壞絕緣子。

　　注意事項尤其是在工廠質(zhì)量一致性測試中，應(yīng)謹(jǐn)慎使用介電耐壓測試，因為即使小于擊穿電壓的超電勢也可能會損壞絕緣，從而降低其安全系數(shù)。因此，不建議在同一樣品上重復(fù)施加測試電壓。如果在測試程序中規(guī)定了隨后施加測試電位的情況，建議以降低的電位進(jìn)行后續(xù)測試。